Laboratorio de Caracterización de Nanomateriales
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
Bruker – Dimension Icon – ScanAsyst
El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons y de obtener imágenes de muestras a nivel atómico. El equipo que se encuentra en nuestro laboratorio permite la medición de muestras sólidas o liquidas. Permite la caracterización morfológica, mecánica, química.
Microscopio Electrónico de Barrido (FEG-SEM)
Tescan – MIRA 3
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Los detectores disponibles de ese equipo son electrones segundarios, electrones retrodispersados, sistemas-in lens (ES/BSE), catodoluminescencia, análisis química elemental, bajo vacío.
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM)
FEI – Tecnai Spirit Twin (120 kV)
El microscopio electrónico de transmisión es un microscopio que utiliza un haz de electrones para obtener imágenes de muestras delgadas. Se puede obtener información de morfología, estructura y patrón de difracción (SAED). Su resolución es de 0.15 nm point to point.
Difractómetro de Rayos X (XRD)
Panalytical – Empyrean
El difractómetro utiliza una fuente de rayos-X que se concentra en una muestra. El resultado de la interacción entre los rayos-X emitidos y la estructura de muestra nos da un difractógrama que una vez interpretado nos permite conocer el compuesto estudiado así como su estructura espacial.
Metalizador (Sputtering)
Quorum – Q150R ES
El metalizador permite el recubrimiento de muestras con materiales metálicos. Se usa principalmente en microscopía electrónica para depositar un espesor controlado de material como oro, oro-platino, entre otros. De ese modo la muestra es conductora para que se pueda realizar un análisis morfológica.
Perfilómetro
Bruker – Dektak XT
El perfilómetro permite medir la rugosidad o el perfil de una superficie mediante el contacto de una punta específicamente diseñada para detectar las irregularidades de superficie. Se puede calcular la rugosidad de cualquier muestra. Se emplea en mediciones de capas delgadas por ejemplo deposición o películas finas de tipo celdas solares.
Microscopios ópticos
Los microscopios ópticos son conectados a cámaras digitales para poder tomar fotos numéricas de las muestras. Son de utilidades cotidianas en el laboratorio para la preparación de muestras para microscopía electrónica.
