Laboratorio de Caracterización de Nanomateriales

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
Bruker – Dimension Icon (con ScanAsyst)
Tipo de ensayos

Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)
TESCAN – MIRA 3

microscopio Electrónico de Transmisión (TEM)
FEI – Tecnai Spirit Twin

Difractómetro de Rayos X (XRD)
Panalytical – Empyrean

Metalizador (Sputering)
Quorum – Q150R ES

Perfilómetro
Bruker – Dektak XT