Microscopio Electrónico de Barrido (FEG-SEM)
Tescan – MIRA 3
El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un tipo de microscopio capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Los detectores disponibles de ese equipo son electrones segundarios, electrones retrodispersados, sistemas-in lens (ES/BSE), catodoluminescencia, análisis química elemental, bajo vacío.