Laboratorio de Caracterización de Nanomateriales
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
Bruker – Dimension Icon (con ScanAsyst)
Tipo de ensayos
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)
TESCAN – MIRA 3
microscopio Electrónico de Transmisión (TEM)
FEI – Tecnai Spirit Twin
Difractómetro de Rayos X (XRD)
Panalytical – Empyrean
Metalizador (Sputering)
Quorum – Q150R ES
Perfilómetro
Bruker – Dektak XT
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